测量范围(0～1250) μm（F1、N1测头）F400测头可以检测
分 辨 率0.1μm (F1、N1测头
示值精度±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度
显示方法128*64点阵液晶LCD
存储容量可存储5组（每组较多100个测量值）测量数据
测厚仪的发展历史可以追溯到19世纪末，当时人们开始尝试利用声波技术来测量材料的厚度。随着科学技术的不断进步，测厚仪的测量精度和应用范围都得到了大幅提升。
测膜厚仪还可以用于研究纳米材料和薄膜的电子性质，为纳米电子学和纳米技术的发展提供重要数据。总之，测膜厚仪作为一种重要的测量仪器，在工业生产和科学研究中发挥着重要作用。随着薄膜技术的不断发展，测膜厚仪的性能和精度也在不断提高，将为各行业的发展和创新提供更加可靠的技术支持。相信随着科技的不断进步，测膜厚仪将在未来发挥更加重要的作用。
测膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器，它在工业生产和科学研究中起着至关重要的作用。
薄膜技术已经被广泛应用于许多领域，包括电子、光学、医学和材料科学等。因此，测膜厚仪的发展和应用对于提高生产效率和产品质量具有重要意义。
测膜厚仪的原理是利用光学或电子技术来测量薄膜的厚度。在光学测膜厚仪中，通过测量光的反射或透射来计算薄膜的厚度。而在电子测膜厚仪中，则是利用电子束或X射线来穿透薄膜并测量其厚度。这些测膜厚仪可以地测量薄膜的厚度，通常精度可以达到纳米级别。
膜测厚仪能够帮助生产商确保包装材料的质量和防护性能。除了以上行业外，膜测厚仪还被广泛应用于科研领域和质量检测领域。科研人员可以利用膜测厚仪来研究薄膜材料的特性和应用。质量检测人员可以利用膜测厚仪来监控产品的质量和性能。
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