测量范围(0～1250) μm（F1、N1测头）F400测头可以检测
分 辨 率0.1μm (F1、N1测头
示值精度±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度
显示方法128*64点阵液晶LCD
存储容量可存储5组（每组较多100个测量值）测量数据
测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，它在工业生产和科学研究中起着重要的作用。
测膜厚仪在工业生产中扮演着重要的角色。在电子行业中，薄膜技术被广泛应用于半导体制造和显示屏生产中。测膜厚仪可以帮助生产商确保薄膜的厚度符合规定标准，从而保证产品的质量。
薄膜技术已经被广泛应用于许多领域，包括电子、光学、医学和材料科学等。因此，测膜厚仪的发展和应用对于提高生产效率和产品质量具有重要意义。
测膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器，它在工业生产和科学研究中起着至关重要的作用。
在光学行业中，测膜厚仪也被用于镀膜和光学镜片的生产中，以确保光学元件的性能。此外，测膜厚仪还可以用于医学领域，例如用于测量医用薄膜的厚度，以确保器械的安全性和有效性。除了工业应用，测膜厚仪在科学研究中也发挥着重要作用。科学家们可以利用测膜厚仪来研究不同材料的薄膜性质，从而推动材料科学的发展。
膜测厚仪能够帮助生产商监控薄膜的厚度，确保产品的光学性能。在行业中，薄膜被用于医用敷料、手术器械包装和医用传感器等产品中。膜测厚仪能够帮助生产商确保产品的质量和安全性。在包装行业中，薄膜被用于食品包装、药品包装和化妆品包装等产品中。
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