测量范围(0～1250) μm（F1、N1测头）F400测头可以检测
分 辨 率0.1μm (F1、N1测头
示值精度±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度
显示方法128*64点阵液晶LCD
存储容量可存储5组（每组较多100个测量值）测量数据
测厚仪的发展历史可以追溯到19世纪末，当时人们开始尝试利用声波技术来测量材料的厚度。随着科学技术的不断进步，测厚仪的测量精度和应用范围都得到了大幅提升。
测膜厚仪的原理是利用光学或电子技术来测量薄膜的厚度。在光学测膜厚仪中，通过测量光的反射或透射来计算薄膜的厚度。而在电子测膜厚仪中，则是利用电子束或X射线来穿透薄膜并测量其厚度。这些测膜厚仪可以地测量薄膜的厚度，通常精度可以达到纳米级别。
测膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器，它在工业生产和科学研究中起着至关重要的作用。
在光学行业中，测膜厚仪也被用于镀膜和光学镜片的生产中，以确保光学元件的性能。此外，测膜厚仪还可以用于医学领域，例如用于测量医用薄膜的厚度，以确保器械的安全性和有效性。除了工业应用，测膜厚仪在科学研究中也发挥着重要作用。科学家们可以利用测膜厚仪来研究不同材料的薄膜性质，从而推动材料科学的发展。
测膜厚仪在工业生产中扮演着重要的角色。在电子行业中，薄膜技术被广泛应用于半导体制造和显示屏生产中。测膜厚仪可以帮助生产商确保薄膜的厚度符合规定标准，从而保证产品的质量。
膜测厚仪能够帮助生产商监控薄膜的厚度，确保产品的光学性能。在行业中，薄膜被用于医用敷料、手术器械包装和医用传感器等产品中。膜测厚仪能够帮助生产商确保产品的质量和安全性。在包装行业中，薄膜被用于食品包装、药品包装和化妆品包装等产品中。
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